半導(dǎo)體曲線圖示儀是一種用示波管顯示半導(dǎo)體器件各種特性曲線，并可測(cè)量其靜態(tài)參數(shù)的測(cè)試儀器。與其它同類型圖示儀相比，主要區(qū)別在于采用了微機(jī)控制技術(shù)，引入了字符顯示，光標(biāo)測(cè)量功能，使半導(dǎo)體管的各種靜態(tài)參數(shù)，包括β（hfe）、Gfs(gm) 均可光標(biāo)測(cè)量、數(shù)字讀出, 給用戶帶來(lái)更多方便。為保證儀器的合理使用，既不損壞被測(cè)晶體管，也不損壞儀器內(nèi)部線路，在使用儀器前應(yīng)注意下列事項(xiàng)：
1.對(duì)被測(cè)管的主要直流參數(shù)應(yīng)有一個(gè)大概的了解和估計(jì)，特別要了解被測(cè)管的集電極大允許耗散功率PCM、大允許電流ICM和擊穿電壓BVEBO、BVCBO 。
2.選擇好掃描和階梯信號(hào)的極性，以適應(yīng)不同管型和測(cè)試項(xiàng)目的需要。
3.根據(jù)所測(cè)參數(shù)或被測(cè)管允許的集電極電壓，選擇合適的掃描電壓范圍。一般情況下，應(yīng)先將峰值電壓調(diào)至零，更改掃描電壓范圍時(shí)，也應(yīng)先將峰值電壓調(diào)至零。選擇一定的功耗電阻，測(cè)試反向特性時(shí)，功耗電阻要選大一些，同時(shí)將X、Y偏轉(zhuǎn)開(kāi)關(guān)置于合適擋位。測(cè)試時(shí)掃描電壓應(yīng)從零逐步調(diào)節(jié)到需要值。
4.對(duì)被測(cè)管進(jìn)行必要的估算，以選擇合適的階梯電流或階梯電壓，一般宜先小一點(diǎn)，再根據(jù)需要逐步加大。測(cè)試時(shí)不應(yīng)超過(guò)被測(cè)管的集電極大允許功耗。
5.在進(jìn)行ICM的測(cè)試時(shí)，一般采用單簇為宜，以免損壞被測(cè)管。
6.在進(jìn)行IC或ICM的測(cè)試中，應(yīng)根據(jù)集電極電壓的實(shí)際情況選擇，不應(yīng)超過(guò)本儀器規(guī)定的大電流。
7.進(jìn)行高壓測(cè)試時(shí)，應(yīng)特別注意安全，電壓應(yīng)從零逐步調(diào)節(jié)到需要值。觀察完畢，應(yīng)及時(shí)將峰值電壓調(diào)到零。
更新時(shí)間：2020-04-23
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